名古屋市工業研究所

  • 文字サイズの変更
  • 文字サイズを標準にします
  • 文字サイズを大きく

HOME > 研究所案内-主要設備・設備検索 > 光学特性評価システム - 輝度・照明測定装置

主要設備・設備検索

設置設備・装置等の仕様

導入年度:平成26年

装置名 光学特性評価システム - 輝度・照明測定装置
設備の概要
(目的、用途)
本装置は、主に液晶やCRTなどのディスプレイデバイスの分光分布、輝度、色度、相関色温度の測定ができます。ハイコントラストのディスプレイパネルの光学特性評価や自動車用インパネの微小面を高精度に測定可能です。また、照度アダプターを使用することで、照度の測定も可能となります。
メーカー (株)トプコンテクノハウス
型式 SR-LEDW-5N
設備仕様

測定波長:370〜780nm
測定範囲:0.0005〜5,000,000cd/m2
0.01〜30,000,000lx
スペクトル波長幅:5nm
測定内容:分光分布、輝度、照度、色度、色温度

設置場所 電子技術総合センター 4F 第2メカトロ実験室(E401)
問合せ先 システム技術部 電子技術研究室
立松昌(052-654-9935)
その他 この設備は、平成25年度補正予算事業「地域オープンイノベーション促進事業」(東海地域)によって導入されました。
写真
光学特性評価システム - 輝度・照明測定装置

このページの先頭へ