名古屋市工業研究所

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主要設備・設備検索

設置設備・装置等の仕様

導入年度:平成27年 JKAのアイコン

装置名 X線回折装置
設備の概要
(目的、用途)
・固体、粉末、薄膜材料など、物質の種類や結晶構造の同定
・薄膜の膜厚測定
・微小領域に局在した異物の特定
・液中に分散したナノサイズ粒子の大きさや形状・粒度分布測定
・試料の残留応力解析
メーカー PANalytical
型式 Empyrean
設備仕様

・X線源:4kw高圧発生器
・X線管球セラミック製 LEF Cu
・ゴニオメータ:高精度試料水平ゴニオメータ
・光学系:Bragg-BrentanoHD、ダブルクロススリットコリメータ、
  微小部アライメントカメラ
・試料ステージ:3軸クレードルステージ、SAXS/WAXSステージ
・試料ホルダ:円形サンプルホルダ、キャピラリーホルダ1.0mmφ
・検出器:多次元半導体検出器PIXcel3D、平板コリメータ 0.27°
・制御・解析コンピュータシステム:23インチTFT液晶ディスプレイ、
カラーレーザプリンタ、制御ソフトウェア、総合解析ソフトウェア、
極図形解析ソフトウェア、残留応力解析ソフトウェア、小角散
乱解析ソフトウェア、反射率解析ソフトウェア、薄膜グラフィック
スソフトウェア、化合物同定検索用データベース

設置場所 研究棟 4F X線測定室(R414)
問合せ先 材料技術部 環境技術研究室
小野さとみ(052-654-9855)
その他 この設備は、公益財団法人JKAの平成27年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業によって導入されました。(H27.12.15設置)
写真
X線回折装置

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