名古屋市工業研究所

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主要設備・設備検索

設置設備・装置等の仕様

導入年度:平成27年 JKAのアイコン

装置名 超音波探傷器
設備の概要
(目的、用途)
本機器は材料内部に存在するきずを検出する試験機器です。試験体に超音波を送信し、きずから反射されるエコーをキャッチしてきずの情報を得ます。フェイズドアレイ機能を有しておりAスコープ(基本表示画像)のみでなくBスコープ(断面画像)できずを可視化することができます。
本機器を用いて探傷技術の高度化に関する研究開発を行うとともに、本機器を活用した講習会や研修を実施して、新産業の創出や産業の高付加価値化につながる技術者の人材育成を支援しています。
メーカー GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ株式会社
型式 PhasorXS 16/64
設備仕様

探傷機能:一般探傷及びフェイズドアレイ機能
画像出力:Aスコープ、Bスコープ、トップビュー(平面画像)
フェイズドアレイ探触子周波数:5MHz、10MHz
一般探傷探触子周波数:2MHz、5MHz(垂直探触子)
           5MHz(斜角探触子)
一軸エンコーダー
校正用試験片:STB A1及びSTB A2
ソフトウェア:Rhythm UT 4.0

設置場所 電子技術総合センター 1F 第1メカトロ実験室(E105)
問合せ先 システム技術部 製品技術研究室
深谷聡(052-654-9859)
その他 この設備は、公益財団法人JKAの平成27年度公設工業試験研究所等における人材育成等補助事業によって導入されました。(H27.11.27設置)
写真
超音波探傷器

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