名古屋市工業研究所

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HOME > 研究所案内-主要設備・設備検索 > 電子部品環境試験システム(低温恒温恒湿器・冷熱衝撃装置(湿度付)・高速温度変化型低温高温器(ハイストレスチャンバー)・高度加速寿命試験装置(HASTチャンバー)・真空オーブン・イオンマイグレーション評価システム・導体抵抗評価システム)

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設置設備・装置等の仕様

導入年度:平成10年 中小企業総合事業団ものづくり試作開発支援センター整備事業のアイコン

装置名 電子部品環境試験システム(低温恒温恒湿器・冷熱衝撃装置(湿度付)・高速温度変化型低温高温器(ハイストレスチャンバー)・高度加速寿命試験装置(HASTチャンバー)・真空オーブン・イオンマイグレーション評価システム・導体抵抗評価システム)
設備の概要
(目的、用途)
電子機器・部品をはじめとした試料に様々な温度・湿度のストレスを加えることができます。
想定される最高/最低温湿度条件での動作確認や、通常より厳しい条件での放置・動作試験(=高速で劣化させる)などを目的として用いられ、試料の動作保証・耐久試験・市場での不具合の再現などに使用されます。
メーカー エスペック(株)
型式 PSL-2KPH・TSA-100D-W・HC-120・EHS-411M・VAC-200PR・AEI-040-P・AMR-120-P
設備仕様

<恒温恒湿槽>
制御範囲:-70〜150℃/20〜98%RH
槽内サイズ:W600×H850×D600mm
<冷熱衝撃試験/結露サイクル試験機>
高温恒湿槽:-10〜150℃/40〜95%RH
低温槽:-70〜60℃
槽内サイズ:W650×H460×D370mm

<高速温度変化型低温恒温器>
制御範囲:-60〜150℃
槽内サイズ:W380×H100×D320mm

<HASTチャンバー>
制御範囲:105〜162℃/75〜100%RH/0.02〜0.39MPa
(不飽和・濡れ飽和・乾湿球制御)
槽内サイズ:W255×H255×D318mm

<イオンマイグレーション評価システム>
定電圧出力:DC1〜100V
電流測定範囲:0〜2μA
リークタッチ検出速度:50μs以下
測定チャンネル数:40

<導体抵抗評価システム>
抵抗測定範囲:1×10^-3〜1×10^6Ω(ケーブル先端にて)
測定チャンネル数:120

設置場所 電子技術総合センター 2F 環境試験室(E208)
問合せ先 システム技術部 電子技術研究室
村瀬真、立松昌(052-654-9930,9935)
その他 この設備は、平成10年度 中小企業事業団(現 中小企業総合事業団) ものづくり試作開発支援センター整備事業 によって整備されました。(H11.1.29設置)
写真
電子部品環境試験システム(低温恒温恒湿器・冷熱衝撃装置(湿度付)・高速温度変化型低温高温器(ハイストレスチャンバー)・高度加速寿命試験装置(HASTチャンバー)・真空オーブン・イオンマイグレーション評価システム・導体抵抗評価システム)

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