名古屋市工業研究所

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主要設備・設備検索

設置設備・装置等の仕様

導入年度:昭和61年 中小企業庁技術開発補助事業または技術指導施設費補助事業のアイコン

装置名 半導体パラメータアナライザ
設備の概要
(目的、用途)
ダイオード、トランジスタ、FETなどの一般的な部品から特殊な素子にいたるまでのさまざまな半導体の電圧電流特性を測定する装置です。
メーカー 横河ヒューレットパッカード
型式 4145B
設備仕様

基本機能:電流電圧印加/電流測定/電圧測定
電源/測定ユニット(SMU):4チャンネル
電圧レンジ:±20V(〜100mA)、±40V(〜50mA)、±100V(〜20mA)

設置場所 電子技術総合センター 3F 先端技術開放試験室(E301)
問合せ先 システム技術部 電子技術研究室
村瀬真(052-654-9930)
その他
写真
半導体パラメータアナライザ

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