名古屋市工業研究所

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新規導入設備

導入年度:平成21年 (財)JKA設備拡充補助対象事業のアイコン

装置名 X線CT装置
設備の概要
(目的、用途)
X線による透過断面像をコンピュータで再構築して3D化する装置です。部品等の外部形状のみならず、鋳物の鬆など内部構造までもが3Dで表現でき、部品形状・構造の精密検査やCAEルームのソフトウエア群と組み合わせて設計CADデータへのデータフィードバック、さらに三次元造型機を利用した現実空間への出力が可能です。
マイクロCTですのでプラスチック中のガラス繊維の配向も可視化可能です。
また、透過X線カメラとして電子部品等の断線調査などに利用することもできます。
メーカー 東芝ITコントロールシステム(株)
型式 TOSCANER-32252μhd
設備仕様

X線管電圧:225kV、最小焦点寸法:4μm、最小スライス厚:2μm、最大スキャンエリア:φ200×H300mm。
断面像画素数(256X256, 512X512,1024X1024)
CT像生成可能な最大透過距離の目安(鉄25mm、アルミニウム100mm、プラスチック200m)
ソフトウェア:VG Studio Max 2.2、Point Master

設置場所 研究棟 4F 高分子物性試験室(R408)
問合せ先 材料技術部 有機材料研究室
岡本和明、名倉あずさ(052-654-9902,9950)
システム技術部 電子技術研究室
岩間由希(052-654-9951)
その他 この設備は、財団法人JKAの平成21年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業によって導入されました。(H22.02.05設置)
写真 X線CT装置の画像

導入年度:平成21年 地域イノベーション創出共同体形成事業のアイコン

装置名 ICP発光分光分析装置
設備の概要
(目的、用途)
工業原料・製品中の微量成分や非鉄金属材料中の微量有害成分など、共存物の多い材料の微量分析に用いることのできる、シーケンシャル型のICP発光分光分析装置です。内部標準測定には、イットリウムを含めて、ストロンチウム、スカンジウムの3種類の内部標準元素を使用することができます。
メーカー エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)
型式 SPS3520
設備仕様

・シーケンシャル型分光器を有し、主分光器の分解能(半値幅)が0.02nm以下
・真空紫外領域を含む波長範囲160〜770nmでの測定が可能
・副分光器を有し、内部標準元素イットリウム、ストロンチウム、スカンジウムについて、2波長同時測光による内部標準測定が可能
・フッ酸試料導入可能
・高塩濃度試料導入可能

設置場所 研究棟 5F 分光測定室(R513)
問合せ先 材料技術部 環境技術研究室
小野さとみ(052-654-9855)
材料技術部 金属・表面技術研究室
大橋芳明(052-654-9921)
その他 この設備は、平成21年度地域イノベーション創出共同体形成事業「研究開発環境支援事業」によって導入されました。(H21.10.1設置)
写真 ICP発光分光分析装置の画像
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