名古屋市工業研究所

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主要設備・設備検索

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新規導入設備

導入年度:平成27年 JKAのアイコン

装置名 X線回折装置
設備の概要
(目的、用途)
・固体、粉末、薄膜材料など、物質の種類や結晶構造の同定
・薄膜の膜厚測定
・微小領域に局在した異物の特定
・液中に分散したナノサイズ粒子の大きさや形状・粒度分布測定
・試料の残留応力解析
メーカー PANalytical
型式 Empyrean
設備仕様

・X線源:4kw高圧発生器
・X線管球セラミック製 LEF Cu
・ゴニオメータ:高精度試料水平ゴニオメータ
・光学系:Bragg-BrentanoHD、ダブルクロススリットコリメータ、
  微小部アライメントカメラ
・試料ステージ:3軸クレードルステージ、SAXS/WAXSステージ
・試料ホルダ:円形サンプルホルダ、キャピラリーホルダ1.0mmφ
・検出器:多次元半導体検出器PIXcel3D、平板コリメータ 0.27°
・制御・解析コンピュータシステム:23インチTFT液晶ディスプレイ、
カラーレーザプリンタ、制御ソフトウェア、総合解析ソフトウェア、
極図形解析ソフトウェア、残留応力解析ソフトウェア、小角散
乱解析ソフトウェア、反射率解析ソフトウェア、薄膜グラフィック
スソフトウェア、化合物同定検索用データベース

設置場所 研究棟 4F X線測定室(R414)
問合せ先 材料技術部 環境技術研究室
小野さとみ(052-654-9855)
その他 この設備は、公益財団法人JKAの平成27年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業によって導入されました。(H27.12.15設置)
写真 X線回折装置の画像

導入年度:平成27年 JKAのアイコン

装置名 超音波探傷器
設備の概要
(目的、用途)
本機器は材料内部に存在するきずを検出する試験機器です。試験体に超音波を送信し、きずから反射されるエコーをキャッチしてきずの情報を得ます。フェイズドアレイ機能を有しておりAスコープ(基本表示画像)のみでなくBスコープ(断面画像)できずを可視化することができます。
本機器を用いて探傷技術の高度化に関する研究開発を行うとともに、本機器を活用した講習会や研修を実施して、新産業の創出や産業の高付加価値化につながる技術者の人材育成を支援しています。
メーカー GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ株式会社
型式 PhasorXS 16/64
設備仕様

探傷機能:一般探傷及びフェイズドアレイ機能
画像出力:Aスコープ、Bスコープ、トップビュー(平面画像)
フェイズドアレイ探触子周波数:5MHz、10MHz
一般探傷探触子周波数:2MHz、5MHz(垂直探触子)
           5MHz(斜角探触子)
一軸エンコーダー
校正用試験片:STB A1及びSTB A2
ソフトウェア:Rhythm UT 4.0

設置場所 電子技術総合センター 1F 第1メカトロ実験室(E105)
問合せ先 システム技術部 製品技術研究室
深谷聡(052-654-9859)
その他 この設備は、公益財団法人JKAの平成27年度公設工業試験研究所等における人材育成等補助事業によって導入されました。(H27.11.27設置)
写真 超音波探傷器の画像

導入年度:平成27年

装置名 コンポジット部材振動特性評価解析装置(水平補助テーブル付振動試験機)
設備の概要
(目的、用途)
電子機器などの製品が輸送または使用時に被る振動による影響を当試験機で模擬し調べることができます。
メーカー IMV(株)
型式 A30/SA3HM
設備仕様

駆動方式   :動電型
加振力      :正弦波30kN, ランダム波30kN rms, ショック波60kN peak
最大加速度:正弦波900m/s2, ランダム波630m/s2 rms, ショック波1500m/s2 peak
最大速度   :正弦波2.0m/s, ランダム波2.0m/s rms, ショック波2.5m/s peak
最大変位   :76.2mmp-p
周波数範囲:垂直方向5-2600Hz, 水平方向5-2000Hz
計測CH数  :4ch
画像計測    :加振機に同期した高速画像計測による伝達関数測定が可能
静音試験 :ブロアーを停止して10分間の加振が可能(無負荷時)

設置場所 中間実験工場 1F 機械振動実験室
問合せ先 システム技術部 製品技術研究室
吉村圭二郎、井谷久博(052-654-9867,9933)
その他 この設備は、平成26年度補正予算事業「地域オープンイノベーション促進事業」(東海地域)によって導入されました。(H27.12.24設置)
写真 コンポジット部材振動特性評価解析装置(水平補助テーブル付振動試験機)の画像
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