名古屋市工業研究所

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主要設備・設備検索

研究棟 2F

計測技術研究室(R203)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
伝達関数測定装置 小野測器
CF-5220
振動伝達関数測定、音響周波数分析 1994 伝達関数測定装置の画像
音源探査および心理音響評価システム ブリュエル・ケア
SY-3560
音響インテンシティ測定、近距離音響ホログラフィ分析、音質評価 2003
日本自転車振興会設備拡充補助対象事業のアイコン
音源探査および心理音響評価システムの画像
垂直入射吸音率測定装置 日東紡音響エンジニアリング
WinZac MTX
垂直入射吸音率測定、垂直入射音響透過損失測定 2012 垂直入射吸音率測定装置の画像

計測技術研究室(R208)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
粘弾性測定器 レオロジ
DVE-V4
弾性率、損失正接の温度特性評価 1993
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粘弾性測定器の画像
動的剛性率測定器 京都電子工業
特DEM-11M
弾性率、剛性率、内部摩擦の温度特性評価 1993
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動的剛性率測定器の画像

熱処理実験室(R209)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
高温送風定温乾燥器(熱風循環式熱処理炉) 東洋製作所
FV-470-S
金属材料の熱処理
2000
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高温送風定温乾燥器(熱風循環式熱処理炉)の画像

試料準備室1(R210)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
自動精密切断機 ビューラー
アイソメット2000
材料の切断 1998
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自動精密切断機の画像
大型自動切断装置 小松商事
ベルナスカットVA101
材料の切断 1993 大型自動切断装置の画像

試料準備室2(R211)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
自動研磨・琢磨装置 ビューラー
フェニックス4000
試料の研磨・琢磨 1998
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自動研磨・琢磨装置の画像

顕微鏡室(R212)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
走査型電子顕微鏡 日本電子
JSM-T300
破面・組織観察 1984
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走査型電子顕微鏡の画像
ロックウェル硬さ試験機 フューチュアテック
FR-1e
硬さ測定 2012 ロックウェル硬さ試験機の画像
ビッカース硬さ試験機 フューチュアテック
FV-300
硬さ測定 2012 ビッカース硬さ試験機の画像
マイクロビッカース硬さ試験機 フューチュアテック
FM-300
硬さ測定 2012 マイクロビッカース硬さ試験機の画像
分析機能付走査電子顕微鏡 島津製作所
SSX-550
金属材料の組織観察、分析 2003
中小企業庁技術開発補助事業または技術指導施設費補助事業のアイコン
分析機能付走査電子顕微鏡の画像
倒立型金属顕微鏡 ニコン
TME200
組織観察 2005 倒立型金属顕微鏡の画像

電子顕微鏡室(R213)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
電子線マイクロアナライザー (株)島津製作所
EPMA8705
元素分析 1988
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電子線マイクロアナライザーの画像
走査型プローブ顕微鏡 日本電子
JSPM-4210
表面形態の観察 2001
中小企業庁技術開発補助事業または技術指導施設費補助事業のアイコン
走査型プローブ顕微鏡の画像
高性能X線光電子分析装置 (株)島津製作所
KRATOS AXIS-HSi
試料表面の局所領域における化学状態分析 2001
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高性能X線光電子分析装置の画像

電子顕微鏡室(R214)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
イオンミリング装置(断面試料作製装置) 日立ハイテクノロジー
E-3500
電子顕微鏡用試料平滑断面試料調製 2008
(財)JKA設備拡充補助対象事業のアイコン
イオンミリング装置(断面試料作製装置)の画像
試料トリミング装置 ライカマイクロシステムズ
EM TXP
電子顕微鏡観察用トリミング 2008
(財)JKA設備拡充補助対象事業のアイコン
試料トリミング装置の画像
X線分析機能付高分解能走査電子顕微鏡 日立ハイテクノロジーズ
S-4800
表面形態の観察および微小部X線分析 2008
(財)JKA設備拡充補助対象事業のアイコン
X線分析機能付高分解能走査電子顕微鏡の画像
コーティング装置 日立製作所
E-1030
カーボン及び金属コーティング 2001
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コーティング装置の画像

電子顕微鏡室(R215)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
低真空走査電子顕微鏡 日本電子
JSM-5900LV
生物・有機系試料の観察 2000
中小企業庁技術開発補助事業または技術指導施設費補助事業のアイコン
低真空走査電子顕微鏡の画像
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