名古屋市工業研究所

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HOME > 研究所案内-主要設備・電子技術総合センター 2F

主要設備・設備検索

電子技術総合センター 2F

クリーンルーム(E201)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
ドライエッチング装置 東京応化工業
OPM-EM-1000
レジスト除去 1985 ドライエッチング装置の画像

恒温恒湿室(E203)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
ネットワークアナライザ アンリツ
MSB3401B
回路網の利得、損失の測定(低域用) 1996 ネットワークアナライザの画像
保護接地抵抗計 エヌエフ回路設計ブロック
EP-1200A
出力1kW、周波数の可変 1990 保護接地抵抗計の画像
デジタルマルチメーター ケースレー
2001
電圧、電流、抵抗の測定 1993 デジタルマルチメーターの画像
リークカレントハイテスタ 日置
3155
機器の漏洩電流測定 2000 リークカレントハイテスタの画像
過渡熱抵抗測定装置 メンターグラフィックスジャパン
T3Ster
電子部品の熱抵抗測定 2011
(財)JKA設備拡充補助対象事業のアイコン
過渡熱抵抗測定装置の画像
高周波材料特性測定装置 アジレント・テクノロジー株式会社 / 株式会社関東電子応用開発
E5071C / 85070E / CSH2-APC7 / CSH5-20D
複素誘電率、複素透磁率の測定 2011
(財)JKA設備拡充補助対象事業のアイコン
高周波材料特性測定装置の画像

電子素子加工実験室(E209)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
オージェマイクロプローブ 日本電子
JAMP-10S
表面分析 1985 オージェマイクロプローブの画像
オージェ電子分光測定制御装置 日本電子データム(株)
AESデータシステム
表面分析 2006
日本自転車振興会設備拡充補助対象事業のアイコン
オージェ電子分光測定制御装置の画像
X線マイクロアナライザ オックスフォード・インストゥルメンツ(株)
ISIS300
表面分析 1998
中小企業総合事業団ものづくり試作開発支援センター整備事業のアイコン
X線マイクロアナライザの画像
環境制御型走査プローブ顕微鏡 セイコーインスツルメンツ(株)
SPI3800N
表面形状の測定 1998
中小企業総合事業団ものづくり試作開発支援センター整備事業のアイコン
環境制御型走査プローブ顕微鏡の画像
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