名古屋市工業研究所

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主要設備・設備検索

電子技術総合センター 4F

第2メカトロ実験室(E401)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
光学特性評価システム - 全光束測定システム 大塚電子(株)
FM-9100
光源の全光束、発光効率測定 2014 光学特性評価システム - 全光束測定システムの画像
光学特性評価システム - 配光測定システム 大塚電子(株)
GP-2000
光源の配光測定 2014 光学特性評価システム - 配光測定システムの画像
光学特性評価システム - 輝度・照明測定装置 (株)トプコンテクノハウス
SR-LEDW-5N
輝度、照度、分光分布の測定 2014 光学特性評価システム - 輝度・照明測定装置の画像
光学特性評価システム - 反射・透過測定装置 ニッカ電測(株)
GP-4
物質の透過、反射散乱特性評価 2014 光学特性評価システム - 反射・透過測定装置の画像
光学特性評価システム - 形状測定装置 (株)キーエンス
VK-X210/200
非接触形状測定 2014 光学特性評価システム - 形状測定装置の画像

光エレクトロニクス研究室(E403)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
材料物性シミュレータ KGT
OCTANE/SE
計算化学 1998
中小企業総合事業団ものづくり試作開発支援センター整備事業のアイコン
材料物性シミュレータの画像
汎用分光光度計 日立製作所
340S
光学特性の測定 1979 汎用分光光度計の画像
磁化特性測定装置(交流) 岩通計測
SY-8219
磁化特性(交流)測定 2012
電磁界シミュレーションシステム JSOL
JMAG-Studio
電磁界解析(有限要素法) 2002
中小企業庁技術開発補助事業または技術指導施設費補助事業のアイコン
信号発生器 アンリツ
MG3642A
広帯域信号発生器 同期運転 2002
中小企業庁技術開発補助事業または技術指導施設費補助事業のアイコン

3Dものづくり工房CAEルーム(E406)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
CAEルーム ヒューレット・パッカード社(ワークステーション)
Z400 Workstation 4台
各種シミュレーション 2010
「住民生活に光をそそぐ交付金制度」事業を活用した新製品開発支援事業のアイコン
CAEルームの画像

製品技術研究室(E407)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
粘度測定装置 Brookfield
HBDV-U+ ProCP
粘度の測定 2007
(財)JKA設備拡充補助対象事業のアイコン
粘度測定装置の画像

3Dものづくり工房RPルーム(E409)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
三次元造形機 Stratasys社
FORTUS 400mc-L
熱溶解積層法による三次元造形 2010
「住民生活に光をそそぐ交付金制度」事業を活用した新製品開発支援事業のアイコン
三次元造形機の画像

第1共同研究室(E410)

機器名称 メーカー・型式 用途 設置年度 写真
熱容量測定装置(示差走査熱量計) TA Instruments
DSC Q 100
熱分析・熱測定 2004
日本自転車振興会設備拡充補助対象事業のアイコン
熱容量測定装置(示差走査熱量計)の画像
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