名古屋市工業研究所

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得意技術

電子・情報

インデックス

電子機器・部品の信頼性評価および故障解析

得意技術の名称

電子機器・部品の信頼性評価および故障解析

温湿度試験による信頼性評価技術を中心として、製品の研究開発から製造段階での検査・品質管理、市場における不具合現象の解析など、様々な場面における信頼性向上をお手伝いします。また鉛フリーはんだ技術についても、業界団体と連携して取り組んでいます。
担当室長 システム技術部 電子技術研究室長 月東充
連絡先 TEL 052-654-9926
得意技術を表すキーワード

長年の経験から、試験・分析・測定の勘所を心得ています。

低温試験、高温試験、高温高湿試験、温度サイクル試験、温湿度サイクル試験、
冷熱衝撃試験、結露サイクル試験、プレッシャークッカー試験、はんだ接合信頼性試験、イオンマイグレーション試験、絶縁破壊試験、濡れ性試験、加速寿命試験、
電子回路基板上の不良解析、電子機器の故障解析
主要設備

他部署と連携しつつ、電子機器・部品の信頼性を評価するための基本的なツールを揃えています。

超低温恒温恒湿槽(H10)、恒温恒湿槽(H18) 、冷熱衝撃試験機(H18) 、結露サイクル試験機(H10)、高度加速寿命試験槽(H10)、高速温度変化型低温恒温器(H10)、真空恒温槽(H10)、はんだ導体抵抗評価装置(H18)、イオンマイグレーション評価装置(H10)
これまでの研究・試験・指導テーマ
  • 自動車部品・光ファイバ用反射防止膜等の信頼性評価技術
  • センサ等電子機能部品の温湿度特性評価、温湿度サイクルに対する信頼性評価
  • 電子部品のはんだ接合信頼性、耐環境性に優れた制御装置の開発
  • 医療用電子機器の長期絶縁信頼性
  • 光通信用部品のスクリーニング試験
  • 電子機器の結露に対する信頼性評価技術・対策
  • プリント基板パターン・ワイヤーボンディング用パッド等の不良解析
  • 電子回路発煙等の事故原因解明、電気電子機器・材料の電気・安全性試験
  • 鉛フリーはんだのリフロー・手はんだ付け信頼性
今後取り組みたい課題
  • 新しい実装技術の開発と信頼性
  • 鉛フリーはんだの信頼性評価技術に関するノウハウ蓄積
分野 信頼性、電子実装
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電子素子および材料の評価技術

得意技術の名称

電子素子および材料の評価技術

半導体パラメータアナライザを用いたトランジスタなど電子素子の出力特性評価、走査プローブ顕微鏡を用いた薄膜電極などの表面形状測定、オージェ電子分光法を用いた電極極表面の酸化状態の評価など、電子素子及び材料の各種評価ができます。
担当室長 システム技術部 電子技術研究室長 月東充
連絡先 TEL 052-654-9926
得意技術を表すキーワード

電子素子評価技術、表面形状測定、表面元素分析

半導体、薄膜、真空蒸着、ドライエッチング、走査プローブ顕微鏡、オージェ電子分光
主要設備

半導体の電気的評価関連、固体表面の形状測定・元素分析

半導体パラメータアナライザ(S60)、真空蒸着装置(S60)、ドライエッチング装置(S60)、走査型プローブ顕微鏡(H10)、オージェ電子分光装置(S60)など
これまでの研究・試験・指導テーマ
  • H18〜H19地域新生コンソーシアム研究開発事業「自己整合技術を用いた有機光高度機能部材の開発」
  • H20〜H21地域イノベーション創出研究開発事業「自己整合技術を用いた有機光テープモジュールの開発」
  • その他、電子素子に関する技術相談
今後取り組みたい課題
  • 半導体素子の電気的特性評価
  • 表面処理後の形状測定
  • はんだの表面酸化の評価
分野 電子実装
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材料特性・製品評価及び情報通信に関連した電磁波利用

得意技術の名称

材料特性・製品評価及び情報通信に関連した電磁波利用

近年、自動車衝突防止レーダに象徴されるように、マイクロ波高域に当たる10GHz以上の周波数の電磁波(ミリ波、サブテラヘルツ波)利用製品が普及し始めています。当所では、マイクロ波域での高速情報通信に加え、マイクロ波・ミリ波域での工業材料の物理化学計測に特徴を持った電磁波利用技術に関する技術支援を行ってまいります。
担当室長

システム技術部 電子技術研究室長 月東充
連絡先 TEL 052-654-9926
プロジェクト推進室長 小島雅彦
連絡先 TEL 052-654-9913

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ラジオ波からミリ波域までの電磁波利用に関連した技術支援を行います。

電磁波(電波)、送受信系(発振器、電磁波センサ、アンテナ)、伝送系(伝送線路、導波管、レンズ)、高周波特性(電磁波伝播、Sパラメータ、特性線路インピーダンス、誘電率、透磁率など)
主要設備

ミリ波領域までの幅広い周波数領域に対応いたします。

RFスペクトラムアナライザ、ベクトルネットワークアナライザ(H10) 、インピーダンスアナライザ(H3) 、電磁界シミュレータ(H14) 、オシロスコープ、半導体パラメータアナライザ、小型TEMセル(H14) 、電子スピン共鳴装置(S55) 、ミリ波送受信・伝送部品(H25)
これまでの研究・試験・指導テーマ
  • 高周波材料の特性評価
  • 高周波デバイスの試作開発
  • 電磁界シミュレーションを活用した技術開発
  • マルチメディアネットワーク技術
  • 工業材料・化成品のマイクロ波・ミリ波特性計測
今後取り組みたい課題
  • 無線、電波を利用した技術開発(物理化学計測、情報通信、防衛、市民生活の安全・安心…)
  • 電磁界シミュレーションを活用した技術支援
  • 情報通信デバイスで特に伝送系に関連した技術開発
  • 電磁波に関連した計測・評価技術(高周波誘電率と透磁率、常磁性共鳴、ミリ波計測など)
分野 電子実装、物理測定、化学分析、情報
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工業材料・部品の電気・磁気特性の評価

得意技術の名称

工業材料・部品の電気・磁気特性の評価

工業材料・製品の誘電率、透磁率、磁化特性、導電率、絶縁性能などの電気・磁気特性の評価に対応します。
担当室長 システム技術部 電子技術研究室長 月東充
連絡先 TEL 052-654-9926
得意技術を表すキーワード

電気・磁気に関する各種特性の評価技術です。

誘電率、透磁率、ヒステリシス(B-H)特性、磁束、磁束密度、磁界、インピーダンス、絶縁耐力、耐電圧、電気抵抗、電気容量、インダクタンス、鉄損、周波数特性、温度特性、誘電体、(強)磁性体(永久磁石、鉄心…)、常磁性化学種(活性酸素…)、キャパシタ、インダクタ、トランス、磁気回路、材料試験、製品(非破壊)試験
主要設備

各種電気・磁気測定に対応した装置を備えており、自作のプローブと併用するなど
様々な試験体に対応します。

インピーダンスアナライザ(H3/S60)、磁化特性測定装置(直流、交流/H24)、ガウスメータ(H23)、磁束計(H16)、電磁鋼帯用(エプスタイン) 試験枠(S60)、デジタルオシロスコープ(H9)、サーチコイル、電流プローブ(H19)、電子スピン共鳴分析装置(S55)、標準抵抗、周波数分析器

これまでの研究・試験・指導テーマ
  • 透磁率の高温特性計測(鉄心及びフェライト材)
  • 開磁路測定系での透磁率・磁化特性評価の最適化(周波数特性実験)
今後取り組みたい課題
  • 常磁性化学種の同定・分析、磁化・磁化率の定量
  • 温度特性実験への対応
分野 物理測定、機能材料、化学分析、信頼性、電子実装
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電磁ノイズの評価と対策

得意技術の名称

電磁ノイズの評価と対策

電子機器から発生する電磁ノイズの強度測定、電子機器の耐電磁ノイズ性能評価、および電磁波シールド材料の特性評価を行います。また、電磁ノイズに関する対策技術(特に高速信号伝送路に関する電磁ノイズ対策技術)等、EMCに関する研究、開発を行います。
担当室長 システム技術部 電子技術研究室長 月東充
連絡先 TEL 052-654-9926
得意技術を表すキーワード

電磁ノイズの評価を行います。

電磁ノイズ、雑音端子電圧、雷サージ、インパルスノイズ、電源高調波、瞬時停電、
静電気放電、電磁波シールド材、スペクトル分析、インピーダンス
主要設備

電磁ノイズ対策のための様々な試験・測定装置が揃っています。

シールドルーム、スペクトラムアナライザ(H11) 、雷サージ試験装置(H6) 、インピーダンスアナライザ(H9)、静電気放電試験装置(H9) 、インパルスノイズ試験装置(S61) 、高速過渡現象・バースト試験装置(H9) 、瞬時停電試験装置(S61) 、電源高調波測定装置(H9) 、雑音端子電圧測定装置(S60) 、ダイポールアンテナ(S60) 、対数周期アンテナ(S60) 、ホーンアンテナ(H11) 、シールド材評価器(S60)
これまでの研究・試験・指導テーマ
  • 電子機器の雷サージ試験
  • アンテナやコイルのインピーダンス測定
  • 電子機器の静電気放電試験
  • 電磁波シールド材のシールド特性評価
  • 電子機器のインパルスノイズ、高速過渡現象・バースト試験
  • 瞬時停電試験
  • 電子機器の雑音端子電圧、雑音電力測定
  • 電子機器の放射ノイズ測定
今後取り組みたい課題
  • 電磁ノイズ対策技術の研究、開発
分野 電子実装
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光学材料の評価

得意技術の名称

光学材料の評価

LED照明や電球などの光源および被検査試料の光学特性を評価しています。光源の全光束、配光、輝度、照度、試料の透過・反射散乱特性などを測定できます。
担当室長 システム技術部 電子技術研究室長 月東充
連絡先 TEL 052-654-9926
得意技術を表すキーワード

光学特性、分光特性、光計測、光学材料

光源:全光束、配光、輝度、照度、発光スペクトル
試料:透過散乱・反射散乱特性
主要設備

光源の光学特性に加え、試料(拡散板、膜等)の散乱特性が測定可能です。

全光束測定システム(H26)、配光測定システム(H26)、分光放射計(H26)、ゴニオフォトメータ(H26)
これまでの研究・試験・指導テーマ
  • 照明機器の特性評価
  • 光源の特性評価
  • 光学材料の特性評価
  • 光計測システムの開発
今後取り組みたい課題
  • ディスプレイなどの表示機器に対する計測・評価技術
  • 透過散乱、反射散乱特性の画像処理応用
分野 物理測定、機能材料、情報
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画像応用システムの開発支援

得意技術の名称

画像応用システムの開発支援

カメラで撮像した画像を利用した外観検査システムや計測システムの開発を支援します。ソフトウェアばかりでなく、照明装置やセンサなどの電子回路などを開発することにより、目的と費用対効果に見合った画像システムを開発します。
担当室長 システム技術部 電子技術研究室長 月東充
連絡先 TEL 052-654-9926
得意技術を表すキーワード

・目的や対象物にあった画像入力・画像演算および照明装置を開発します。

・広範囲を高解像度で撮像する技術を応用します。

デジタル画像処理、カメラ、照明、非接触計測、レンズ、反射板
主要設備

画像処理が行えるソフトウェアと撮像装置およびこれらの周辺装置を作製する器具を揃えています。

画像処理ソフト:HALCONver.5(H14)
撮像装置:カラーラインスキャンカメラ(H21)、レンズ他
電子回路作成支援:ISE9.0(H20)、評価基板ML505(H21)
これまでの研究・試験・指導テーマ
  • 広範囲・高解像度撮像システム
  • 集光反射板の設計
  • 画像入力ソフトの開発
今後取り組みたい課題
  • 中小企業の皆様からの技術課題を汲み取ります。
分野 情報
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ソフトコンピューティングを用いたデータ処理および制御

得意技術の名称

ソフトコンピューティングを用いたデータ処理および制御

ソフトコンピューティング技術を用いて、各種データから制御ルールを獲得する制御システムの開発や知識などの抽出した情報の解析を行います。
担当室長 システム技術部 製品技術研究室長 夏目勝之
連絡先 TEL 052-654-9861
得意技術を表すキーワード

ソフトコンピューティングの応用研究を行っています。

ファジィ理論、ニューラルネットワーク、進化アルゴリズム、ブースティングアルゴリズム、プログラミング、移動ロボット
主要設備

C言語による制御系設計・シミュレーションが行えます。

VisualC++、Linux
これまでの研究・試験・指導テーマ
  • 小型移動ロボットの開発
  • ロボットに対する教示と学習に関する研究
  • データからの特徴抽
今後取り組みたい課題
  • パートナーロボットの開発
  • 各種データからの情報抽出
分野 情報
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機械システムの解析・計測用ソフトウエア技術とネットワークの活用

得意技術の名称

機械システムの解析・計測用ソフトウエア技術とネットワークの活用

生産機械および機械システムの解析・計測用ソフトウエアおよび工場間などのシステムネットワーク技術、セキュリティ技術を扱います。
担当室長 システム技術部 生産システム研究室長 高橋文明
連絡先 TEL 052-654-9938
得意技術を表すキーワード

生産機械のための解析・計測用ソフトウエアの作成、およびネットワーク技術、セキュリティを目指しています。

機械システム、計測制御技術、ソフトウエアの作成(VC++)、ファジィ、ニューラルネットワーク、遺伝的アルゴリズム(GA)、エキスパートシステム、画像処理、ソフトコンピューティング、セキュリティ、暗号化通信、PKI、公開鍵暗号
主要設備 フトウエア中心のため、コンピュータシステムが主要設備です。
計測機器とのインターフェースは製作します。
これまでの研究・試験・指導テーマ
  • ファジィニューラルネットワークを用いた縦糸糊付け
  • 身体の形状・姿勢測定器の実用器の開発
  • 鋸刃寿命の予測
  • FAネットワークに関する研究
今後取り組みたい課題
  • 機械診断システムの開発
  • 生産部門のネットワーク管理
分野 情報、信頼性
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リアルタイムOSを利用した組込みソフトウェアの開発および検証

得意技術の名称

リアルタイムOSを利用した組込みソフトウェアの開発および検証

組込みソフトウェア、特にリアルタイムOSを利用したソフトウェア開発技術について研究しています。最近では、形式手法を用いたソフトウェアのモデリング及び検証の手法に対する産業応用技術について研究しています。
担当室長 システム技術部 生産システム研究室長 高橋文明
連絡先 TEL 052-654-9938
得意技術を表すキーワード

TOPPERSプロジェクトに参加して組込みソフトウェア開発を行ったり,検証技術の研究に取り組んでいます。

リアルタイムOS、μITRON、TOPPERS、形式手法、Z記法(ISO/IEC13568:2002)、Bメソッド、VDM、モデル検査ツール、SPIN,UPPAAL
主要設備

デバッグツールが利用できます。

ROMエミュレータPARTNERET-U(H14)、JTAGICEのPARTNER-JET(H17)、M32C及びR8プロセッサの評価用ボード
これまでの研究・試験・指導テーマ
  • 「組込みシステム・オープンプラットホームの構築とその実用化研究」
    (経済産業省平成14年度即効型地域新生コンソーシアム研究開発事業)
  • 「自動車統合制御用組込みOSの開発」
    (経済産業省平成17年度地域新生コンソーシアム研究開発事業)
今後取り組みたい課題
  • 小規模組込みシステム向けOSの開発,及びその応用
    パフォーマンスおよび容量の点で従来OSが利用されてこなかったシステムに適する小規模OSの開発およびそれを用いたシステムの検証について取り組みたいと考えています。
分野 情報
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工業標準に基づいたソフトウェア製品、製造工程などの評価

得意技術の名称

工業標準に基づいたソフトウェア製品、製造工程などの評価

ISO/IECで発行され、日本工業規格になっているソフトウェア工業標準に基づいて、ソフトウェア製品及び作業について日本の得意とする改善の手法により試験および検査方法を指導します。特に自動車、航空宇宙、工作機械、事務機械に組み込んだソフトウェア、論理回路の設計・評価の改善を中心に取り扱っています。
担当室長 システム技術部 生産システム研究室長 高橋文明
連絡先 TEL 052-654-9938
得意技術を表すキーワード

国際規格のコエディタをし、原案作成から関与し国内で唯一対応可能な事項有り。

ISO/IEC25000(SquaRE)、ISO/IEC15504、SPICE、ソフトウェア製品品質、ソフトウェアプロセス改善、プロセス能力判定、ISOTS16949
主要設備

必要な工業標準が揃っています。

JIS、ISO/IECJTC1SC7国際規格、PC、各種OS、各種コンパイラ
これまでの研究・試験・指導テーマ
  • ソフトウェアプロセス改善、プロセスアセスメント、規格適合
  • 社内作業標準作成
  • 業界団体作業標準作成
  • 分野別作業標準
  • ソフトウェア請負契約に基づく納入試験、受入試験
  • OS試験、コンパイラ試験
今後取り組みたい課題
  • IEC61508及びISO26262に基づいた機能安全への対応
分野 情報
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機能安全に基づいた組込みソフトウェアの検証

得意技術の名称

機能安全に基づいた組込みソフトウェアの検証

ISO26262、IEC61508等の国際規格を始めとする安全関連規格と危険源分析の国際規格FTA、FMEA、HAZOPを利用したシステムのソフトウェア開発の仕方と検証について指導します。
担当室長 システム技術部 生産システム研究室長 高橋文明
連絡先 TEL 052-654-9938
得意技術を表すキーワード

安全に関係するシステムのソフトウェア開発作業の改善と検証に取り組んでいます。

機能安全(ISO26262、IEC61508)、危険源分析(FTA、FMEA,HAZOP)、ISO/IEC15026、SQuaRE(ISO/IEC25000シリーズ)、AutomotiveSPICE、ISO/IEC15504、MISRA-C、MISRA-C++、HDL設計スタイルガイド(FPGA)
主要設備

POSIX、TESTSuite、GCCTestSuiteなどフリーソフトウェアを中心に検証ツールを用います。

PC,ソフトウェア開発ツール、UMLツール、検証ツール
これまでの研究・試験・指導テーマ
  • TOPPERS/jsp/最小セットの開発及び移植
  • TOPPERS/OSEKの評価、検証
  • CAN/LINミドルウェアの検証
  • 組込みLinuxの検証
  • ネットワークの遅延測定、時刻同期
  • 組込み技術者教育、UML技術者教育
今後取り組みたい課題
  • システムの安全に影響を及ぼす最終製品の検証
分野 情報
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