名古屋市工業研究所

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依頼試験分析

※試験の内容により適用される細目が変わります。詳細はお尋ね下さい。

物理試験

区分 細目 単位 料金(円)
音響測定 1測定 3,000〜
振動測定 周波数、振幅測定 1測定 3,000〜
振動試験

正弦波振動試験(1時間まで)

 1時間を超える場合<1時間ごと>

1試験

1試験

8,300

4,100

ランダム波振動試験(1時間まで)

 1時間を超える場合<1時間ごと>

1試験

1試験

9,600

4,100

モーダル解析 1解析 20,000〜
電気測定
誘電率、誘電体損失測定 各1測定 1,500
容量、インダクタンス測定 各1測定 1,500
絶縁耐力試験 1測定 3,100
電力測定 1測定 2,000
電磁波測定 1測定 3,000〜
光学測定 全光束測定 1件 8,100
電子顕微鏡試験 二次電子像写真 1試験 4,600〜
反射電子像写真 1試験 4,600
X線マイクロアナライザー試験 特性X線写真 1試験 15,400
定性分析 1件 9,000
半定量分析 1成分 6,300
線分析 1件 13,400
X線回折試験 通常広角測定 1試験 5,000
特殊測定(薄膜測定等) 1試験 10,000
解析
同定
特殊解析(結晶化度等)

1試料
1試料

4,000
9,000
オージェ電子分光測定 定性分析 1測定 12,000
深さ方向分析 1測定 20,000〜
固体熱定数測定 1測定 4,000〜
X線光電子分光測定 定性分析ワイドスキャン 1測定 14,000
元素状態分析(ナロースキャン) 1測定 21,000
データ解析 1件 5,000
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