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開放機器
半導体パラメータアナライザ
| 導入年度 | 1986年度 |
|---|---|
| 補助事業 | 中小企業庁 |
| 設備の概要（目的、用途） |
【電圧電流特性の測定 】 ダイオード、トランジスタ、FETなどの一般的な部品から特殊な素子にいたるまでのさまざまな半導体の電圧電流特性を測定する装置です。 |
| メーカー | 横河ヒューレットパッカード |
| 型式 | 4145B |
| 設備仕様 | 基本機能：電流電圧印加/電流測定/電圧測定 電源/測定ユニット（SMU）：4チャンネル 電圧レンジ：±20V（～100mA）、±40V（～50mA）、±100V（～20mA） |
| 設置場所 | 電子技術総合センター3F 先端技術開放試験室(E301) |
| 利用手数料 | 400円 1台1日 |
| 問合せ先 | システム技術部 情報・電子技術研究室 村瀬真(052-654-9930) |
| その他 |