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赤外線サーモグラフィ
| 導入年度 | 2018年度 |
|---|---|
| 補助事業 | （公財）JKA |
| 設備の概要（目的、用途） |
【電子部品等の高速・高拡大の温度分布測定】 本装置は赤外線を検出して表面の温度分布を計測する装置です。 一般的に使用されているサーモグラフィより高速かつ高拡大率で測定することができます。 一般では測定が難しい微小部品や高速な温度変化を計測することができます。 |
| メーカー | FLIR |
| 型式 | X6580sc |
| 設備仕様 | 測定波長：1.5～5.5μm 検出画素数：640×512 フレームレート：355Hz(640×512),670Hz(320×256),1205Hz(160×128),4700Hz(64×8) 空間分解能：5μm(X3倍レンズ）,15μm(X1倍レンズ） |
| 設置場所 | 電子技術総合センター3F 生産システム研究室(E308) |
| 問合せ先 | システム技術部 生産システム研究室 梶田欣(052-654-9940) |
| その他 | この設備は、公益財団法人ＪＫＡの平成30年度公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業によって導入されました。(H31.1.28設置) |