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赤外線非破壊検査装置
| 導入年度 | 2023年度 |
|---|---|
| 補助事業 | （公財）JKA |
| 設備の概要（目的、用途） |
【アクティブサーモグラフィ法による非破壊検査】 サンプルを加熱した際の温度変化を赤外線カメラで測定することで、サンプル内部の欠陥を検知する装置です。サンプル中に異物や空気などの欠陥が存在するときに、熱エネルギーの伝搬状況に差異が生じることを利用して欠陥の検知を行います。検査対象の材質や形状による制限が少なく、研究開発段階から実製品のインライン検査対応まで広く活用可能な装置です。 |
| メーカー | 株式会社ケン・オートメーション |
| 型式 | サーモグラフィ非破壊検査装置 |
| 設備仕様 | 【赤外線カメラ】 検知器 InSb 波長 1.5-5.4μｍ 画素 640×512 15μｍピッチ、ｆ/３ フレームレート(フル画素時) 350Hz レンズ構成 25mmMW, 50mmMW, 接写リング４枚セット 温度校正 5-300℃ 【熱励起システム】 フラッシュランプ： 出力 最大 6ｋJ（3kJ×2） ハロゲンランプ： 連続消費電力 最大2000W（発振器能力：最大3600W） 出力制御 1.8ｋW×２（ランプ×２ 供給） 超音波加振機： 周波数範囲 15~25kHz 出力 最大2200W |
| 設置場所 | 電子技術総合センター5F E505 |
| 問合せ先 | 材料技術部 環境・有機材料研究室 上野雄真(052-654-9868) システム技術部 製品技術研究室 近藤光一郎(052-654-9892) |
| その他 | この設備は、公益財団法人JKAの2023年度「公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業」によって導入されました。(R06.1.30設置) |