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過渡熱抵抗測定装置
| 導入年度 | 2011年度 |
|---|---|
| 補助事業 | （公財）JKA |
| 設備の概要（目的、用途） |
【電子部品の熱抵抗測定】 電子部品・回路の詳細な過渡熱抵抗の測定に用います。電流を通じた際に時間経過と共に変化していく温度を測定することで、電子部品やそれらに接続された基板などの熱的構造を求めることができます。半導体部品の評価（θJCの測定）から、はんだ不良やLEDの劣化評価など様々に応用できます。 |
| メーカー | メンターグラフィックスジャパン |
| 型式 | T3Ster |
| 設備仕様 | Static法（JESD51-14） 試料加熱用電源ブースター（50A/30V） 試料冷却用コールドプレート・サーキュレータ 測定温度範囲：5～90℃（恒温槽） 電圧測定レンジ：400, 200, 100, 50mV |
| 設置場所 | 電子技術総合センター2F 恒温恒湿室(E203) |
| 問合せ先 | システム技術部 生産システム研究室 梶田欣(052-654-9940) |
| その他 | この設備は、財団法人JKAの平成23年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業によって導入されました。(H23.11.9設置) |