導入年度 | 2007年度 |
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補助事業 | (公財)JKA |
設備の概要(目的、用途) |
【材料分析】 試料の光学像より指定した任意の場所にX線ビームを照射することで微小部の分析を行う装置である。試料の特殊な前処理が不要、測定が大気雰囲気中、マッピング分析像・透過X線像の観察が可能、非破壊分析という特徴から、異物分析や材料分析等に利用するほか、既設の蛍光X線分析装置やX線マイクロアナライザーでは測定できなかった含水試料・含油試料の分析に用いる。 |
メーカー | (株)堀場製作所 |
型式 | XGT-5000 TYPE IS |
設備仕様 | X線管: 最大50 kV, 1 mA (Rh ターゲット) 空間分解能: 100 μm 検出元素: 11Na ~ 92U 最大測定範囲: 100 mm × 100mm |
設置場所 | 研究棟4F 高分子物性試験室(R408) |
問合せ先 | システム技術部 製品技術研究室 波多野諒(052-654-9954) 材料技術部 表面技術研究室 松村大植(052-654-9857) |
その他 | この設備は、(財)JKA(旧日本自転車振興会)の平成19年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業によって導入されました。(H20.2.29設置) |