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電子部品環境試験システム（低温恒温恒湿器・高速温度変化型低温高温器（ハイストレスチャンバー）・高度加速寿命試験装置（HASTチャンバー）・真空オーブン・イオンマイグレーション評価システム・導体抵抗評価システム）
| 導入年度 | 1998年度 |
|---|---|
| 補助事業 | ものづくり試作開発支援センター |
| 設備の概要（目的、用途） |
【電子部品の環境試験】 電子機器・部品をはじめとした試料に様々な温度・湿度のストレスを加えることができます。 想定される最高／最低温湿度条件での動作確認や、通常より厳しい条件での放置・動作試験（＝高速で劣化させる）などを目的として用いられ、試料の動作保証・耐久試験・市場での不具合の再現などに使用されます。 |
| メーカー | エスペック（株） |
| 型式 | PSL-2KPH/HC-120/EHS-411M/VAC-200PR/AEI040P/AMR120P |
| 設備仕様 | ＜恒温恒湿槽＞ 制御範囲：-70～150℃／20～98%RH 槽内サイズ：W600×H850×D600mm ＜高速温度変化型低温恒温器＞ 制御範囲：-60～150℃ 槽内サイズ：W380×H100×D320mm ＜HASTチャンバー＞ 制御範囲：105～162℃／75～100%RH／0.02～0.39MPa （不飽和・濡れ飽和・乾湿球制御） 槽内サイズ：W255×H255×D318mm ＜イオンマイグレーション評価システム＞ 定電圧出力：DC1～100V 電流測定範囲：0～2μA リークタッチ検出速度：50μs以下 測定チャンネル数：40 ＜導体抵抗評価システム＞ 抵抗測定範囲：1×10^-3～1×10^6Ω（ケーブル先端にて） 測定チャンネル数：120 |
| 設置場所 | 電子技術総合センター2F 環境試験室(E208) |
| 問合せ先 | システム技術部 情報・電子技術研究室 長坂洋輔(052-654-9858) システム技術部 生産システム研究室 立松昌(052-654-9935) |
| その他 | この設備は、平成10年度 中小企業事業団(現 中小企業総合事業団) ものづくり試作開発支援センター整備事業 によって整備されました。(H11.1.29設置) |