名古屋市工業研究所

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主要設備・設備検索

設置設備・装置等の仕様

導入年度:平成26年

装置名 光学特性評価システム - 配光測定システム
設備の概要
(目的、用途)
本システムは,LED等の照明器具の配光特性を測定する装置です。2軸ゴニオステージに照明器具を設置し、マルチチャンネル分光光度計で配光測定を行います。配光測定によって空間的な光度または照度の強度分布や色度分布を測定します。また、配光測定によって得られた光度分布から照明器具の全光束を算出することが可能です。
メーカー 大塚電子(株)
型式 GP-2000
設備仕様

測定波長:360〜830nm
二軸ゴニオ:θΦ座標系
光路長:1.5m、 3m、 6m
分光器:MCPD-9800(3095C)
測定項目:配光、色度、色温度、演色性評価数、全光束(球帯係数法)
測定対象例:LEDモジュール、小型電球、蛍光管(対角120cmまで)

設置場所 電子技術総合センター 4F 第2メカトロ実験室(E401)
問合せ先 システム技術部 電子技術研究室
立松昌(052-654-9935)
その他 この設備は、平成25年度補正予算事業「地域オープンイノベーション促進事業」(東海地域)によって導入されました。
写真
光学特性評価システム - 配光測定システム

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