名古屋市工業研究所

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主要設備・設備検索

設置設備・装置等の仕様

導入年度:平成23年 (財)JKA設備拡充補助対象事業のアイコン

装置名 高周波材料特性測定装置
設備の概要
(目的、用途)
高周波材料特性測定装置は、固体のみならずゲル状などの半固体や液体の複素誘電率を測定することができ、固体の複素透磁率の測定もできる装置です。特定の周波数のみではなく、目的の周波数領域で掃引した特性の変化も測定することができます。自動車やスマートフォンなどで用いられる樹脂や塗膜などの材料の電気的特性の測定に活用できます。
メーカー アジレント・テクノロジー株式会社 / 株式会社関東電子応用開発
型式 E5071C / 85070E / CSH2-APC7 / CSH5-20D
設備仕様

誘電率測定:0.2〜8.5GHz(固体、半固体、液体)、0.1〜8.5GHz(固体)、2.45GHz, 5.8GHz(高精度)
透磁率測定:0.1〜8.5GHz(固体)

設置場所 電子技術総合センター 2F 恒温恒湿室(E203)
問合せ先 プロジェクト推進室 八木橋信
(052-654-9937)
その他 この設備は、財団法人JKAの平成23年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業によって導入されました。(H24.1.31設置)
写真
高周波材料特性測定装置

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